精确测量硅片上的二氧化硅薄膜的厚度
精确测量硅片上的二氧化硅薄膜的厚度
制造半导体元件时,常需要精确地测定硅片上的二氧化硅薄膜的厚度,这时可以把二氧化硅薄膜的一部分腐蚀掉,使它成为劈尖,利用等
大学物理薄膜干涉,测定二氧化硅薄膜的厚度,形成劈尖,利用等厚条纹测出其厚度,
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白光射到薄膜上形成薄膜干涉,为什么从紫光到红光对应的薄膜厚度从薄到厚
为什么在薄膜干涉时,相同薄膜厚度的点一定在同一条纹上,同一干涉条纹上的点薄膜厚度相同?
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