请问在利用薄膜干涉检查平面的平整程度时,为什么被检查平面要放在下面而不放在上面呢?

请问在利用薄膜干涉检查平面的平整程度时,为什么被检查平面要放在下面而不放在上面呢? 用透明的标准平面样板检查光学平面的平整程度为什么不是利用光的偏振现象而是光的薄膜干涉现象? 利用薄膜干涉检查工件平整度 关于薄膜干涉的应用用干涉法检查平面是否平整,为什么如果被检测平面是光滑的,得到的干涉图样是等间距的,为什么凹下 明纹提前 检查表面的平整度 薄膜干涉 利用光的干涉检查平整度?原理是什么?为什么平面向下凹则干涉条纹向楔形膜中薄的一侧弯曲? 干涉法检查被检测平面的平整度应用了光的双缝干涉原理 利用光的干涉检查平整度怎么来判断? 利用光的干涉检查平整度时,怎么判断凹凸?(人教版物理选修3-4第69页图,尖端在左,薄片在右,条纹向左弯) 1.在用干涉法检查平面时,为什么是在那层空气膜上发生干涉现象?我们看到的它的干涉现象又是在哪呢? 为什么要把密度大的物质放在下面,把密度小的物质放在上面? 对于薄膜干涉中检查玻璃的平整与否,如果凹下去,