怎样用XRD数据求峰的半高宽

先查查卡片,看看样品的主强峰的2THETA角是多少,然后挑选主强峰跟这个2theta角相差10到20度范围的薄膜材料.

例如,下面的公式是对A1:A10取平均数后,再四舍五入取两位小数.=ROUND(AVERAGE(A1:A10),2)

?:tiger05:zbdfwq5777(站内联系TA)利用软件拟合XRD就可以.利用软件拟合XRD就可以.X'pertPlus,GSAS,TOPAS,Fullpro等程序都可以,但初学者估计有一点难

狕Pcaiqi(站内联系TA)这个时代基本上已经没有人再用origin通过XRD半高宽来计算晶粒度了.MaterialsDataInc（MDI）公司出品的JADE软件是用于X射线衍射数据处理和分析的软

你给出的XRD谱,已经是JCPDS（粉未衍射标准联合会）发行的PDF《粉末衍射卡片集》（Powder Diffraction Files,简称 PDF卡片）：80-007

16.623.8各有一个标识峰,30—40间有一簇峰,你可以用JADE或者pcpdf查找标准卡片.

峰的强度低是XRD图谱的性质,就是峰不是很尖锐,峰很钝,学名叫宽化,这样反应的样品性质就是粒径很小,结晶度低是样品的性质,反映在图谱上就是有很大的噪音,图谱毛刺现象很重,需要平滑之后才能看.峰强度和结

可以采用国家空气质量标准,地表水标准,土壤标准,用这些标准对照自然环境的现状,你就能知道目前环境污染有多么严重了.

现在的XRD卡片都是和机器配套的,一般没有单独的.就是说你从厂家购买XRD仪,他会附带查询卡片给你.卡片统一由国际衍射资料中心出版,至1997年,已有卡片47组,包括有机、无机物相约67000张.因此

朋友,你这个数据可采用pearson相关分析就可以,spss的步骤如下：1、单击Analyze——Correlate——Bivariate...,则弹出相关分析BivariateCorrelation

是不是噪声背底太高了?对数据处理一下就可以了.

直接把数据导入到MATLAB里,然后和0比较,确定一个0-1矩阵,再和这个0-1相乘就可以了.不知道你具体的数据是什么,只说出了方法

假设数据区域是A1:J1第一大值=max(A1:J1)第二大值=large(if(frequency(a1:j1,a1:j1),a1:j1),2)第三大值=large(if(frequency(a1:

无水硫酸钙的XRD图

应该是晶体结构再问：能具体点吗？3q再答：囧，我之前说错了。和别人讨论了一下，我们认为这是样品的来源。因为卡片库可由不同研究者向其提供发现的新物质的XRD谱图，审核之后汇总。用syn等注明用来建立该卡

利用XRD图谱计算晶格常数,首先要确定样品的晶胞类型,然后利用图谱几个相对强度较大的峰,在标准图中找到相应的k,h,l和相应晶胞角度,带入相应的计算公式,就可以解出相应的晶格常数了,用JADE软件可以

XRD:X-RayDiffractionX射线也是一种电磁波,即光,虽然根据其波长范围有硬软X射线之分,但用于晶体结构测定的X射线都是硬X射线,其波长与晶体中原子间距离处于同一数量级上[10^(-10

你看看spss分析曲线估计里面有很多个曲线模型,你可以一次性把列出的那些曲线模型全部选中然后根据结果看那种模型拟合效果最好那就用哪种模型再问：我选择了复合函数发现拟合度高可是我不知道符合函数的公式结构

XRD数据怎么确定哪个峰是哪个晶面的?答：分两种情况：1,数据库中,有卡片,参照卡片,对应晶面；2,无卡片（新物质）,需要指标化,才能得到相应晶面.计算晶粒大小是用FWHM么?答：是的.但是谢乐公式有

用origin把图叠在一起就醒了,这样看起来理解容易,准备paper也方便.另：楼主写的问题不够清楚XRD主要进行相结构分析的.首先,你要知道做X衍射你再问：我现在得到的都是**.txt或**.raw