影响XRD的衍射强度与样品厚度的关系-搜答案-搜搜考试网

利用谢乐公式来计算谢乐公式的应用方法Dc=0.89λ/(Bcosθ)(λ为X射线波长,B为衍射峰半高宽,θ为衍射角)双线法（Williams-Hall）测定金属晶体中的微观应力晶块尺寸小于0.1μm,

这种专业问题还是要到百度知道上来问吧!不会得到好的解答的!

你这个问题没看懂,XRD可以进行物相的定性和定量分析,大部分都是做定性分析,即看里面都有哪些物相（矿相）,用d值与pdf标准卡片比对,误差不要超过0.02d值.

关于粉末衍射,研磨的确破坏了块状材料的宏观结构,但是这里的粉末仍然都是一个一个的小晶体,仍然具有长程有序性,这些粉末都是随机分布的,因此,差不多各个方向的衍射峰都可以出现,由于每个晶向对激光的衍射程度

方法一：用jade5.0或者6.0,很复杂,你百度个教程看看方法二：人工分析第一步,你先去把可能物质的标准PDF卡片找出来,标出那三种物质的晶系,晶格常数等信息,PDF卡片上都有.第二步,用内标法或者

楼主, X射线衍射法,对样品测试收费要远高于红外光谱的.如果你是单纯想测量薄膜的精确厚度,可以用红外光谱法（IR),精确度可达cm^(-1)量级.在红外光谱范围内,1000cm^

北京大学物理系近代物理实验室

我有pentaerythritol,pdf卡片号48-0161再问：但是里面有Na2SO4-Na2O-SiO2-Al2O3-CH3OH这些是指什么呢她们的卡片号一样？你能帮我分析下我的谱图么我的Q是8

16.623.8各有一个标识峰,30—40间有一簇峰,你可以用JADE或者pcpdf查找标准卡片.

峰的强度低是XRD图谱的性质,就是峰不是很尖锐,峰很钝,学名叫宽化,这样反应的样品性质就是粒径很小,结晶度低是样品的性质,反映在图谱上就是有很大的噪音,图谱毛刺现象很重,需要平滑之后才能看.峰强度和结

现在的XRD卡片都是和机器配套的,一般没有单独的.就是说你从厂家购买XRD仪,他会附带查询卡片给你.卡片统一由国际衍射资料中心出版,至1997年,已有卡片47组,包括有机、无机物相约67000张.因此

有谢乐公式可以算晶面间距,并且通过峰的位置判断晶面hkl值.你可以用jade软件分析.

找到对应的物相的pdf卡片后,卡片上d值对应的晶面指数.

影响不大,

没有影响,因为仪器自己的保护罩很严密,即使在那个房间也没有影响,一般用铅玻璃和铅屏风完全可以阻隔X射线.再问：谢谢您的解答，可是我们距离xrd只隔着普通的玻璃和墙，有影响吗

是电子散射波振幅的积分.

衍射峰单位就用CPS,有时也用Intensity/a.u.X射线的强度与管电流成正比,与管电压的n次方成正比.因此,X射线的强度可以用电流与电压的单位表示.从本质来看,标识X射线是电子跃迁的结果,因此

观察厚度/cos(PI/6)=实际厚度,PI为圆周率.即观察厚度除以30度的余弦值,计算出来的便是实际厚度.

当缝的横向宽度越大,则衍射条纹之间的间隔就越小.当缝的纵向宽度远大于光波的波长,则不必考虑纵向衍射,换句话说,衍射问题从二维简化成了一维问题.当缝的纵向宽度和横向宽度跟光波的波长相比都基本相当,此时衍

和相的多少有关系吧再问：请问到底是何种关系呢？能不能说的具体点·再答：简单说就是试样中每个相衍射线条的强度随该相含量的增加而增加，但是由于试样对X射线的吸收，衍射强度往往不一定与相的含量成正比，需要修